BS EN 60749-24:2004 PDF

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST

Открыть превью (PDF)Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST

Название (английский):

BS EN 60749-24:2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST

Формат:

Электронный (PDF)

Дата публикации:

24 июня 2004 г.

ICS:

31.080.01

Технический комитет:

CENELEC

SKU:

BS EN 60749-24:2004