PD IEC/TR 63133:2017 PDF

Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

Открыть превью (PDF)Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

Название (английский):

PD IEC/TR 63133:2017

Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Дата публикации:

31 января 2018 г.

ICS:

31.080.01

SKU:

PD IEC/TR 63133:2017