BS ISO 24173:2009 PDF

Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

Открыть превью (PDF)Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

Название (английский):

BS ISO 24173:2009

Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

Статус документа:

Отменён

Формат:

Электронный (PDF)

Дата публикации:

31 октября 2009 г.

ICS:

71.040.50

SKU:

BS ISO 24173:2009