BS IEC 62047-34:2019 PDF

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer

Открыть превью (PDF)Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer

Название (английский):

BS IEC 62047-34:2019

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Дата публикации:

30 апреля 2019 г.

ICS:

31.080.99

Технический комитет:

CENELEC

SKU:

BS IEC 62047-34:2019