BS IEC 60747-18-1:2019 PDF

Semiconductor devices - Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors

Открыть превью (PDF)Semiconductor devices - Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors

Название (английский):

BS IEC 60747-18-1:2019

Semiconductor devices - Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors

Формат:

Электронный (PDF)

Дата публикации:

30 июня 2019 г.

ICS:

31.080.99

Технический комитет:

CENELEC

SKU:

BS IEC 60747-18-1:2019