ΠŸΠ΅Ρ€Π΅ΠΉΡ‚ΠΈ ΠΊ содСрТимому
НизкиС Ρ†Π΅Π½Ρ‹. ΠžΡ€ΠΈΠ³ΠΈΠ½Π°Π»Ρ‹ ΠΈ ΠΏΠ΅Ρ€Π΅Π²ΠΎΠ΄Ρ‹ β€” ΡΠΊΠΎΠ½ΠΎΠΌΡŒΡ‚Π΅ врСмя ΠΈ Π±ΡŽΠ΄ΠΆΠ΅Ρ‚.

BS EN IEC 63287-2:2023 PDF

Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans - Concept of mission profile

ΠŸΠ΅Ρ€Π²Π°Ρ страница стандарта BS EN IEC 63287-2:2023ΠžΡ‚ΠΊΡ€Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΡ€Π΅Π²ΡŒΡŽ (PDF)Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans - Concept of mission profile
НазваниС (английский):
BS EN IEC 63287-2:2023

Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans - Concept of mission profile

Бтатус Π΄ΠΎΠΊΡƒΠΌΠ΅Π½Ρ‚Π°:
Π”Π΅ΠΉΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠΉ
Π€ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚:
Π­Π»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΎΠ½Π½Ρ‹ΠΉ (PDF)
Π”Π°Ρ‚Π° ΠΏΡƒΠ±Π»ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ:
31 мая 2023 г.
ICS:
31.080.01
ВСхничСский ΠΊΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚:
CENELEC
SKU:
BS EN IEC 63287-2:2023

Π‘Π°ΠΉΡ‚ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅Ρ‚ cookie ΠΈ счётчики посСщСний для Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚Ρ‹ ΠΈ статистики. ΠŸΠΎΠ»ΠΈΡ‚ΠΈΠΊΠ° ΠΊΠΎΠ½Ρ„ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ†ΠΈΠ°Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΠΈ