BS EN 62047-3:2006 PDF

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing

Открыть превью (PDF)Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing

Название (английский):

BS EN 62047-3:2006

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Дата публикации:

30 ноября 2006 г.

ICS:

31.080.99

Технический комитет:

CENELEC

SKU:

BS EN 62047-3:2006