BS EN 60749-38:2008 PDF

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory

Открыть превью (PDF)Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory

Название (английский):

BS EN 60749-38:2008

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Дата публикации:

30 июня 2008 г.

ICS:

29.130.10

Технический комитет:

CENELEC

SKU:

BS EN 60749-38:2008