BS EN 60749-2:2002 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Low air pressure
Название (английский):
BS EN 60749-2:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Low air pressure
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 24 сентября 2002 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 60749-2:2002
