BS EN 60749-14:2003 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Robustness of terminations (lead integrity)
Название (английский):
BS EN 60749-14:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Robustness of terminations (lead integrity)
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 15 декабря 2003 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 60749-14:2003