ISO TR 14187-2020 PDF

Полное наименование и описание

ISO/TR 14187:2020 — Surface chemical analysis — Characterization of nanostructured materials. Технический отчёт, дающий обзор подходов и проблем при химическом анализе поверхности наноструктурированных материалов, с фокусом на методах, относящихся к предметной области ISO/TC 201 (электронные спектроскопии).

Аннотация

Документ вводит типы информации, которые можно получить о наноструктурированных материалах с помощью методов анализа поверхности, описывает общие и метод-специфические проблемы (например, размытие границ «объём — поверхность — частица» при размерах порядка нанометров), затрагивает вопросы подготовки образца, воздействия зонда, влияния среды и интерпретации данных. В тексте приводятся примеры методов (Auger, XPS, SIMS, сканирующая зондовая микроскопия) и обсуждаются ограничения и возможности их применения.

Общая информация

• Статус: Published (технический отчёт, действующий).
• Дата публикации: 30 июня 2020 г.
• Организация-издатель: International Organization for Standardization (ISO), совместно с ISO/TC 201/SC 7.
• ICS / категории: 71.040.40 (Chemical analysis).
• Редакция / версия: Edition 2 (второе издание, 2020).
• Количество страниц: 45 страниц (официальное издание ISO, июнь 2020).

Область применения

Технический отчёт предназначен для специалистов по анализу поверхности и исследователей наноматериалов; служит вводным обзором по применению методов химического анализа поверхности к наноструктурированным плёнкам, частицам и другим наноструктурам. Материал полезен при планировании измерений, оценке применимости методов и интерпретации результатов, но не устанавливает обязательных нормативных требований.

Ключевые темы и требования

• Обзор информационных задач, решаемых методами анализа поверхности для наноструктурированных материалов (наличие загрязнений, толщина покровов, химический состав поверхности и т.п.).
• Описание метод-специфических возможностей и ограничений (Auger Electron Spectroscopy, X‑ray Photoelectron Spectroscopy, Secondary Ion Mass Spectrometry, Scanning Probe Microscopy и др.).
• Проблемы, связанные с размерами проб и переходом между «объём/поверхность/частица» при наномасштабах.
• Вопросы подготовки и хранения образцов, влияния среды и зонд-артефактов на результаты измерений.
• Рекомендации по идентификации необходимой информации, выбору методики и учёту факторов, влияющих на интерпретацию данных.

Основные положения и примеры в документе направлены на повышение согласованности подходов и информированности пользователей при проведении поверхностного анализа наноматериалов.

Применение и пользователи

Документ будет полезен: лабораториям аналитической химии и материаловедения, исследовательским группам в области нанотехнологий, производителям аналитического оборудования, экспертам по валидации методов и специалистам по контролю качества, которые проводят или интерпретируют результаты поверхностного анализа наноструктурированных образцов.

Связанные стандарты

ISO/TR 14187:2020 заменяет ISO/TR 14187:2011 (предыдущее издание) и согласован с работой ISO/TC 229 (нанотехнологии) — JWG 3. Технический отчёт дополняет ряд стандартов и технических документов, регламентирующих конкретные методы поверхностного анализа и терминологию, используемую в области химического анализа поверхности.

Ключевые слова

анализ поверхности; наноструктурированные материалы; поверхностный химический анализ; XPS; AES; SIMS; сканирующая зондовая микроскопия; подготовка образца; интерпретация данных.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Это технический отчёт ISO/TR 14187:2020, дающий обзор применения методов поверхностного химического анализа для характеристики наноструктурированных материалов.

В: Что он регулирует?

О: Отчёт не вводит обязательных требований; он описывает возможности, ограничения и практические проблемы при применении методов анализа поверхности к наноматериалам и даёт рекомендации для корректного планирования и интерпретации измерений.

В: Кто обычно использует?

О: Исследователи и инженеры в области наноматериалов, аналитические лаборатории, разработчики и производители аналитического оборудования, специалисты по контролю качества и стандартизации.

В: Он актуален или заменён?

О: По состоянию официального публикационного каталога ISO документ опубликован в июне 2020 г. (второе издание) и считается действующим; он заменил издание 2011 г. при выходе в 2020 г.

В: Это часть серии?

О: Документ относится к тематике ISO/TC 201 (электронные спектроскопии) и согласован с работой ISO/TC 229 по нанотехнологиям; он дополняет набор стандартов и технических документов, посвящённых отдельным методам поверхностного анализа и сопутствующей терминологии.

В: Какие ключевые слова?

О: Поверхностный химический анализ, наноструктурированные материалы, XPS, AES, SIMS, SPM, подготовка образца, интерпретация данных.