Сайт использует cookie и счётчики посещений для работы и статистики. Политика конфиденциальности
Найдено: 6
Overview ISO 3497:2000 - "Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X‑ray spectrometric methods" defines X‑ray spectrometric (XRF) methods for measuring metallic coating thickness. The s…
Overview EN ISO 3497:2000 / ISO 3497:2000 specifies X‑ray spectrometric methods for measuring the thickness of metallic coatings. It covers both wavelength‑ and energy‑dispersive X‑ray fluorescence (…
