Сайт использует cookie и счётчики посещений для работы и статистики. Политика конфиденциальности
Найдено: 3
Overview ISO 17470:2014 provides guidance for qualitative point analysis by wavelength dispersive X‑ray spectrometry (WDS/WDX) using an electron probe microanalyser (EPMA) or a scanning electron micr…
