ГОСТ Р 71334-2024 PDF
Название на английском:
GOST R 71334-2024
Название на русском:
ГОСТ Р 71334-2024
Описание на русском:
Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции
Описание на английском:
Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
8
Срок поставки (английская версия):
2 рабочих дня(ей)
Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день
Артикул (SKU):
GOST49426
More technical details are being prepared for this document.