Анионные и неионногенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод определения поверхностного натяжения с помощью пластины, скобы или кольца
Государственная система обеспечения единства измерений. Ядерно-физические данные и данные о свойствах веществ и материалов для атомной науки и техники. Часть 1. Ядерно-физические характеристики радионуклидов. Общие положения
1 200 руб.
Задайте вопрос эксперту
Сообщение отправлено
Ваше сообщение отправлено. Наши специалисты скоро свяжутся с вами. Спасибо!