Система оценки качества электронных компонентов МЭК. Оценка соответствия плана управления электронными компонентами согласно МЭК 62239-1:2018, резюме доказательств соответствия и форма отчета об оценке
Статистические методы. Процедуры выборочного контроля по количественному признаку. Часть 2. Общие требования к одноступенчатым планам на основе AQL при контроле последовательных партий по независимым характеристикам качества